Topologie | Buck mit zwei Ausgangsspannungen |
Ausgang 1 | 40 V / 10 A |
Gallium Nitride is grown on Silicon Wafers and processed using standard CMOS equipment leveraging the infrastructure that has been developed over the last 55 years. GaN’s exceptionally high electron mobility and low temperature coefficient allows very low RDS(ON), while its lateral device structure and majority carrier diode provide exceptionally low QG and zero QRR. The end result is a device that can handle tasks where very high switching frequency, and low on-time are beneficial as well as those where on-state losses dominate.
Artikel Nr. | Datenblatt | Simulation | Downloads | Status | Produktserie | L (µH) | IRP,40K (A) | ISAT1 (A) | ISAT,30% (A) | RDC max. (mΩ) | Material | LR (µH) | fres (MHz) | Muster | |
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7443340068 | SPEC Anstehende PCNAufgrund einer anstehenden PCN wird sich in Kürze das Datenblatt des ausgewählten Produktes ändern. Anbei finden Sie das neue Datenblatt, sowie das noch gültige Datenblatt. Bei weiteren Fragen wenden Sie sich bitte an Ihren Vertriebsmitarbeiter. | 8 Dateien | Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. | WE-HCC SMT-Hochstrominduktivität | 0.68 | 22.5 | 21.2 | 23 | 3.1 | Ferrite | 0.64 | 181 |
Artikel Nr. | Datenblatt | Simulation | |
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7443340068 | SPEC Anstehende PCNAufgrund einer anstehenden PCN wird sich in Kürze das Datenblatt des ausgewählten Produktes ändern. Anbei finden Sie das neue Datenblatt, sowie das noch gültige Datenblatt. Bei weiteren Fragen wenden Sie sich bitte an Ihren Vertriebsmitarbeiter. |
Muster |
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Artikel Nr. | Datenblatt | Simulation | Downloads | Status | Produktserie | L (µH) | IRP,40K (A) | ISAT1 (A) | ISAT,30% (A) | RDC max. (mΩ) | Material | LR (µH) | fres (MHz) | Muster |
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