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WE-VE femtoF

WE-VE femtoF
Bauform Maße 3DL
(mm)
W
(mm)
H
(mm)
Fl
(mm)
Montageart
0402 1 0.5 0.6 0.3 SMT
0603 1.6 0.8 0.9 0.3 SMT

Merkmale

  • Sehr geringe Kapazität
  • Sehr kurze Reaktionszeit
  • Sehr geringer Leckstrom
  • Niedrige Klemmspannung
  • Fast kein Energieverbrauch bei Betriebsspannung
  • Hervorragendes Ableitverhalten von ESD-Impulsen
  • Betriebstemperatur: –40 °C bis +85 °C
  • Nickel-Sperrschicht

Anwendung

  • Schutz von Datenleitungen, Bus-Systemen und Halbleitern
  • ESD-Schutz gemäß EN 61000-4-2
    8 kV Kontaktentladung
    15 kV Luftentladung

Artikeldaten

Alle
0402
0603
Artikel Nr. Daten­blatt Downloads StatusVDC
(V)
CCh typ.
(pF)
VCh Clamp ESD typ.
(V)
BauformVESD Contact
(kV)
Design Kit Muster
8231606ASPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. 6 0.05 40 0603 8
8231706ASPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. 6 0.05 40 0402 8823999
8231614ASPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. 14 0.05 45 0603 8
8231714ASPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. 14 0.05 45 0402 8
8231626ASPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre. 26 0.05 50 0603 8
Artikel Nr. Daten­blatt
8231606ASPEC
8231706ASPEC
8231614ASPEC
8231714ASPEC
8231626ASPEC
Muster
Artikel Nr. Daten­blatt Downloads StatusVDC
(V)
CCh typ.
(pF)
VCh Clamp ESD typ.
(V)
BauformVESD Contact
(kV)
Design Kit Muster

Neues ESD-Diodenmodell (auch mit Snapback erhältlich)

Auf realen Messdaten basierend

In Zusammenarbeit mit dem IFE der TU Graz bietet WE nun ein Diodenmodell für alle ESD-Schutzbauelemente an, das auf realen Messdaten mit TLP (Transmission Line Pulsing) basiert, um das tatsächliche Verhalten der Bauelemente unter ESD-Bedingungen zu erfassen. Herkömmliche Modelle verwenden oft vereinfachte Näherungswerte, wie in der gestrichelten Linie dargestellt, während dieses Modell die tatsächlichen transienten Eigenschaften wie Snapback-Verzögerung und Leitfähigkeit widerspiegelt. Unser Modell kann nun auch das Snapback-Verhalten simulieren.

Wesentliche Vorteile:

  • Simulation des tatsächlichen transienten Verhaltens, um Designs unter realistischen Bedingungen zu testen und einen robusten ESD-Schutz zu gewährleisten.
  • Fertige Simulationsdateien vereinfachen die Integration in SPICE-basierte Analysen, beschleunigen Designzyklen und die Markteinführung.
  • Zuverlässige Simulationen reduzieren den Testaufwand, die Entwicklungszyklen und das Risiko von Produktrückrufen aufgrund von ESD-Schwachstellen, während sie gleichzeitig Einblicke in das Bauteilverhalten liefern, um Designoptimierungen zu ermöglichen und eine konsistente ESD-Beständigkeit in einer Vielzahl von Anwendungen, von Unterhaltungselektronik bis hin zu Industriegeräten, sicherzustellen.
Strom-Spannungsdiagramm mit simulierten und realen Messwerten

Sortimente

Artikel dieser Produktserie finden Sie in den folgenden Sortimenten:

Videos

Würth Elektronik Webinar: Effektiver ESD-Schutz mit TVS-Dioden